Chemische Analyse

FIB-Präparation eines elektrischen Steckverbinders und bildgebende Darstellung
des Schichtaufbaus mittels EDX-Mapping

Wir bieten umfassende Analysen zur Bestimmung elementarer Bestandteile und zur Spurenanalytik an. Dabei untersuchen wir lokale Phasenzusammensetzung von Materialien und überprüfen gezielt Herstellerangaben, beispielsweise zu Anteilen an Seltenerd-Metallen oder Additiven in Magneten. Ergänzend führen wir Erstmusteranalysen zur Qualitätssicherung und Materialfreigabe durch.

Zum Einsatz kommen moderne analytische Verfahren wie Röntgenfluoreszenz, Trägergasheißextraktion, Atomemissions- und Atomabsorptionsspektrometrie (AES/AAS) sowie die Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-OES und ICP-MS), um präzise, verlässliche und nachvollziehbare Ergebnisse zu gewährleisten.