Röntgendiffraktometrie und Phasenanalysen

Röntgendiffraktometrie für Strukturanalysen bei Raumtemperatur und mit in-situ Ofen bis 1.200 °C.

Mittels XRD bestimmen wir die Kristallstruktur und die Phasenzusammensetzung von kristallinen Materialien. Rietveld-Simulationen liefern weitere Details und Kennwerte über die untersuchten Materialen wie zum Beispiel Kristallstruktur, Phasenanteile, Gitterdehnungen und Kristallitgröße.

In Kombination mit Lineardetektoren und Ofensystemen können wir dynamische Prozesse, wie Härteprozesse, Bainitisieren, Auslagern oder Phasenumwandlungen, in-situ bis zu einer Temperatur von 1200°C beobachten und analysieren.

Zusätzlich können wir die Eigenspannungen in Materialproben röntgenographisch ermitteln. In Kombination mit elektrolytischen Ätzverfahren erstellen wir Ihnen ein Tiefenprofil des Eigenspannungsverlaufs.

Eine große Anlagenkammer ermöglicht die Messung von großen Proben und ganzen Bauteilen.