Mit neuester Licht- und Rasterelektronenmikroskopie decken wir ein breites Spektrum ab – von einfachen Routineuntersuchungen bis hin zu hochspezialisierten Analyseverfahren wie EDX, EBSD, WDX und FIB.

Mit unseren Automatisierungslösungen und den Einsatz von ML-Algorithmen sind wir in der Lage auch große Bildbereich zu analysieren und die statistische Aussagekraft zu steigern. Mit korrelativen Analyserouten zwischen XRM und Licht- und Rasterelektronmikroskopie begrenzen wir die Anwendung von zeitaufwendigen Detailanalysen, FIB-Präparationen, auf relevante Probenbereiche.

Zu den typischen Anwendungen zählen Gefügeanalysen, Korngrößenanalyse, Fehleranalysen, Ermittlung chemischer Zusammensetzungen, FIB-Analysen, STEM-Analysen, kristallographische Analyse von Texturen und Kristallausrichtungen, Darstellung von Magnetdomänen (dynamische Kerr-Mikroskopie) und Schichtdickenmessungen.

Sie profitieren von unserer langjährigen Expertise in der Analyse und Präparation von Strukturmaterialien, Magnetwerkstoffe (Hartmagnete, Weichmagnete), Keramiken, Li-Ionen Batterien, Brennstoffzellen und Halbleiterbauteile.